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Electromigration Inside Logic Cells

Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS (Sprache: Englisch)
 
 
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This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power. The authors are the...
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