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Springborn, J: Magnetometrie an Halbleiter-Nanostrukturen

 
 
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In dieser Arbeit wurde die Magnetisierung von niedrig-dimensionalen Elektronensystemen mit Hilfe eines Cantilever-Magnetometers vermessen. Dazu wurde ein interferometrisches Verfahren zur Detektion der Cantilever-Auslenkung entwickelt, welches simultane...
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Kommentar zu "Springborn, J: Magnetometrie an Halbleiter-Nanostrukturen"
 
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