Modelldiagnose in der Bayesschen Inferenz
Dissertationsschrift
Die Modelldiagnose in der linearen Regression und anderen statistischen Modellen entwickelt sich zu einem wirkungsvollen Instrument der Statistik mit originellen Ideen und Maßen. Der Sensitivitätsanalyse der klassischen Inferenz stellt der Autor Bayessche...
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Produktinformationen zu „Modelldiagnose in der Bayesschen Inferenz “
Klappentext zu „Modelldiagnose in der Bayesschen Inferenz “
Die Modelldiagnose in der linearen Regression und anderen statistischen Modellen entwickelt sich zu einem wirkungsvollen Instrument der Statistik mit originellen Ideen und Maßen. Der Sensitivitätsanalyse der klassischen Inferenz stellt der Autor Bayessche Ansätze gegenüber. Behandelt werden die Regressionsdiagnose, Diagnose in MCMC-Modellen und allgemeine Probleme der Modelldiagnose. Im Mittelpunkt der neuen Forschungsergebnisse stehen Bayessche Ausreißertests und fortgeschrittene Ausreißermodelle.
Inhaltsverzeichnis zu „Modelldiagnose in der Bayesschen Inferenz “
Aus dem Inhalt: Gegenüberstellung von Sensitivitätsanalyse der klassischen Inferenz und Bayesscher Ansätze - Regressionsdiagnose, Diagnose in MCMC-Modellen, allgemeine Probleme der Modelldiagnose - Im Mittelpunkt der neuen Forschungsergebnisse: Bayessche Ausreißertests und fortgeschrittene Ausreißermodelle.
Autoren-Porträt von Reinhard Vonthein
Der Autor: Reinhard Vonthein wurde 1966 in Hamburg geboren. 1986 begann er mit dem Studium der Statistik an der Universität München. Nach dem Diplom 1993 folgte eine Anstellung an der Universität Basel. Promotion 1998.
Bibliographische Angaben
- Autor: Reinhard Vonthein
- 1999, Neuausg., 149 Seiten, mit zahlreichen Abbildungen, Maße: 14,9 x 21,1 cm, Kartoniert (TB), Deutsch
- Verlag: Peter Lang
- ISBN-10: 3631346107
- ISBN-13: 9783631346105
- Erscheinungsdatum: 01.05.1999
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