Spannungsoptik

(Farbgleichen) und Isoklinen (Richtungsgleichen)
1.3.1-3 Spannungsoptische Konstante - Eichung
1.3.1-4 Modelldicke
1.3.1-5 Einfarbiges und weißes Licht
1.3.1-6 Hilfsmittel der Kristalloptik
1.3.1-7 Sekundäre Hauptspannungen
1.3.1-8 Dreidimensionale (räumliche) Spannungsoptik
1.3.2 Isochromaten
1.3.2-1 Allgemeines
1.3.2-2 Isochromaten und Spannungen an lastfreien Rändern
1.3.2-3 Singuläre und isotrope Punkte
1.3.2-4 Bestimmung der Isochromatenordnung
1.3.2-5 Vervielfachung und Verschärfung von Isochromaten
1.3.2-6 Beispiele von Isochromaten
1.3.3 Isoklinen und Hauptspannungslinien
1.3.3-1 Entstehung von Isoklinen
1.3.3-2 Spannungsoptische Bestimmung der Isoklinen
1.3.3-3 Allgemeine Eigenschaften von Isoklinen
1.3.3-4 Isoklinen und Hauptspannungslinien an singulären und isotropen Punkten
1.3.3-5 Konstruktion der Hauptspannungslinien aus den Isoklinen
1.3.3-6 Allgemeines über Hauptspannungslinien
1.3.3-7 Beispiele von Isoklinen und Hauptspannungslinien
1.4 Modellgesetze
1.4.1 Einführung in die Modelltechnik
1.4.1-1 Allgemeines
1.4.1-2 Physikalische Ähnlichkeit
1.4.1-3 Zur Ermittlung von Modellgesetzen
1.4.2 Strenge, erweiterte und angenäherte statische Ähnlichkeitsgesetze
1.4.2-1 Strenge Ähnlichkeit
1.4.2-2 Erweiterte und angenäherte Ähnlichkeit
1.4.3 Modellgesetze für Sonderfälle
1.4.3-1 Stabilitätsprobleme
1.4.3-2 Rotationsprobleme
1.4.3-3 Eigengewichtsprobleme
1.4.3-4 Schwingungen, Wellen und Stoßprobleme
1.4.3-5 Berührungsprobleme
1.4.3-6 Verbundprobleme
1.4.3-7 Thermoelastische Probleme
1.4.4 Das "De Saint Venantsche Prinzip"
1.4.5 Maßstabsfragen und Fehler bei spannungsoptischen Versuchen
1.4.5-1 Überblick
1.4.5-2 Maßstabsfehler
1.4.5-3 Versuchstechnische Fehler
1.4.6 Übertragung auf die Hauptausführung unter Berücksichtigung des Werkstoffverhaltens
1.4.6-1 Allgemeines
1.4.6-2 Übertragung bei statischen Beanspruchungen
1.4.6-3 Übertragung bei dynamischer Beanspruchung
2. Versuchs- und Meßtechnik
2.1 Überblick
2.2 Modellwerkstoffe
2.2.1 Einführung
2.2.2 Charakteristische Größen zur Kennzeichnung spannungsoptischer Modellwerkstoffe
2.2.2-1 Allgemeine Anforderungen an einen idealen Modellwerkstoff
2.2.2-2 Elastizitätsmodul und Querdehnungszahl
2.2.2-3 Spannungsoptische Konstante bzw. Empfindlichkeit
2.2.2-4 Dehnungsoptische Konstante bzw. Empfindlichkeit
2.2.2-5 Interferenzoptische Konstante
2.2.2-6 Zulässige Spannungen
2.2.2-7 Empfindlichkeit gegen Randeffekt
2.2.2-8 Relative optische Kriechgeschwindigkeit
2.2.2-9 Temperatur für den Einfrierversuch
2.2.2-10 Zug-, Druck- und Biegefestigkeit
2.2.2-11 Dauer- und Zeitstandfestigkeit, Zeitdehngrenze
2.2.2-12 Schlag- und Kerbschlagzähigkeit
2.2.2-13 Härte
2.2.2-14 Dichte
2.2.2-15 Brechungsindex
2.2.2-16 Thermische Eigenschaften
2.2.3 Einfluß der Temperatur
2.2.3-1 Allgemeines zur Temperaturabhängigkeit der wichtigsten spannungsoptischen Kenngrößen
2.2.3-2 Das Einfrierverfahren
2.2.3-3 Wärmebehandlung spannungsoptischer Modellwerkstoffe
2.2.4 Einfluß der Zeit
2.2.4-1 Kriechen
2.2.4-2 Periodische Be- und Entlastung, Schwingungsbeanspruchung
2.2.4-3 Stoßbeanspruchung
2.2.5 Nulleffekte
2.2.5-1 Allgemeines
2.2.5-2 Randeffekte
2.2.5-3 Schlieren
2.2.5-4 Bearbeitungsspannungen
2.2.6 Ergänzungen zur Erklärung der polarisationsoptischen Phänomene aus dem Aufbau der Kunststoffe
2.2.6-1 Allgemeines über Kunststoffe und ihre Einteilung
2.2.6-2 Beschreibung einiger mechanischer und optischer Phänomene aus dem Aufbau der Kunststoffe
2.2.7 Zusammenstellung der wichtigsten Modellwerkstoffe
2.2.7-1 Überblick
2.2.7-2 Epoxidharze
2.2.7-3 Polyesterharze
2.2.7-4 Phenolformaldehydharze
2.2.7-5 Acrylharze
2.2.7-6 Sonstige Modellwerkstoffe
2.3 Modellherstellung
2.3.1 Ausgangsmaterial
2.3.2 Spanabhebende Bearbeitung
2.3.2-1 Allgemeines
2.3.2-2 Sägen, Feilen, Fräsen, Drehen und Bohren
2.3.3 Schleifen und Polieren
2.3.4 Gießen
2.3.4-1 Gießformen
2.3.4-2 Ergänzungen zum Gießen von Scheiben bzw. Platten und von räumlichen Modellen
2.3.5 Kleben
2.4 Modellbelastung und Versuchs technische Hilfsmittel
2.4.1 Belastung ebener und räumlicher Modelle
2.4.1-1 Allgemeines
2.4.1-2 Reiner Zug und Druck
2.4.1-3 Reine Biegung
2.4.2 Polariskope, Kompensatoren und Lichtquellen
2.4.2-1 Polariskope und Kompensatoren
2.4.2-2 Lichtquellen
2.4.3 Photographische Aufnahmen
2.4.3-1 Allgemeines
2.4.3-2 Photographische Aufnahme von Isochromaten
2.4.3-3 Photographische Aufnahme von Isoklinen
2.4.3-4 Ergänzungen
2.4.4 Sonstige Versuchstechnische Hilfsmittel
2.4.4-1 Öfen
2.4.4-2 Immersionsflüssigkeiten
2.4.4-3 Dickenmessung
3. Ebene Spannungsoptik
3.1 Überblick
3.2 Senkrechte und schiefe Durchstrahlung zur Trennung der Haupt Spannungen
3.3 Integrationsverfahren zur Trennung der Hauptspannungen
3.3.1 Das Schubspannungsdifferenzverfahren
3.3.1-1 Einleitung
3.3.1-2 Ermittlung der Normalspannungen ?x und ?y längs eines geraden Schnittes
3.3.1-3 Rechenschema
3.3.1-4 Eine Methode zur genauen Bestimmung von $$\frac{\partial\tau}{\partial y}$$
3.3.2 Auswertungsverfahren nach Coker und Filon
3.4 Isopachen und interferometrisehe Verfahren zur Trennung der Hauptspannungen
3.4.1 Einführung
3.4.2 Lateralextensometer
3.4.2-1 Grundlagen
3.4.2-2 Mechanische Lateralextensometer
3.4.2-3 Elektrische Lateralextensometer
3.4.2-4 Optische Lateralextensometer
3.4.2-5 Photometrisches Dickenmeßverfahren
3.4.3 Analogieverfahren
3.4.3-1 Membran-Analogie
3.4.3-2 Elektrische Analogie
3.4.4 Numerische Verfahren
3.4.4-1 Einleitung
3.4.4-2 Grundgleichungen
3.4.4-3 Methode der Iteration
3.4.4-4 Differenzenmethode
3.4.4-5 Relaxationsmethode
3.4.4-6 Methode der harmonischen Rosette
3.4.5 Interferometrische Verfahren
3.4.5-1 Einführung
3.4.5-2 Interferometertypen
3.4.5-3 Interferometrische Isopachenbestimmung
3.4.5-4 Interferometrische Isopachen- und Isochromatenbe Stimmung
3.5 Weitere Verfahren der ebenen Spannungsoptik
3.5.1 Auswertung längs Symmetrieschnitten
3.5.1-1 Die grundlegenden Voraussetzungen und Zusammenhänge bei symmetrisehen Problemen
3.5.1-2 Angenäherte Konstruktion der p-, q-Kurven über einem Symmetrieschnitt
3.5.2 Auswertung unter Verwendung des Schubspannungshügels
3.5.2-1 Auswertung unter Verwendung der Neigung des Hügels der Schubspannungen
3.5.2-2 Auswertung unter Verwendung des Gleichgewichtes am endlichen Ausschnitt
3.5.3 Verfahren nach Föppl
3.5.4 Das Neubersche Verfahren
3.5.4-1 Bezeichnungen
3.5.4-2 Die Neuberschen Gleichungen
3.5.4-3 Bestimmung der Isopachenrichtung im Innern des Modells
3.5.4-4 Bestimmung der Isopachen am Rand
3.5.4-5 Abstand der Isopachen
3.5.4-6 Eigenschaften der Isopachen
3.5.5 Photoelektrisches-interferometrisches Verfahren
3.5.6 Das Anbohrverfahren
4. Räumliche Spannungsoptik
4.1 Überblick
4.2 Das Einfrierverfahren
4.2.1 Grundlagen
4.2.2 Versuchstechnik
4.2.2-1 Modellwerkstoffe und Modellherstellung
4.2.2-2 Einfrierversuch
4.2.2-3 Eichung
4.2.2-4 ModellZerlegung und Schnittherstellung
4.2.2-5 Untersuchung von Schnitten
4.2.3 Auswertung
4.2.3-1 Allgemeines
4.2.3-2 Oberflächenspannungen
4.2.3-3 Symmetrische Probleme
4.2.3-4 Allgemeine Analyse mittels senkrechter und schiefer Durchstrahlung
4.2.3-5 Das Schubspannungsdifferenzverfahren der räumlichen Spannungsoptik
4.2.3-6 Zur Trennung der Hauptspannungen mit Hilfe der Dickenänderung
4.2.4 Fehler und Genauigkeit beim Einfrierversuch
4.3 Räumliche Spannungsoptik ohne Modell Zerlegung
4.3.1 Das Streulichtverfahren
4.3.1-1 Einleitung
4.3.1-2 Theoretische Grundlagen
4.3.1-3 Versuchstechnik
4.3.1-4 Spezielle Anwendungen
4.3.2 Achsenbildverfahren
4.3.2-1 Einleitung
4.3.2-2 Allgemeiner Versuchsaufbau
4.3.2-3 Entstehung und Form von Achsenbildern
4.3.2-4 Analyse von Achsenbildern
4.3.3 Schichtverfahren
4.3.3-1 Überblick
4.3.3-2 Zwischen-, Zwei- und Mehrschichtverfahren
4.3.3-3 Untersuchung von Platten
4.3.3-4 Untersuchung von Schalen
4.3.4 Einschlußverfahren
4.3.4-1 Einleitung
4.3.4-2 Das Einschlußverfahren nach Rackè
4.4 Ergänzungen zur Beschreibung beliebiger polarisationsoptischer Vorgänge
4.4.1 Allgemeines
4.4.2 Poincaré-Kugel
4.4.3 j-Kreis
4.4.4 Wulffsches Netz
- Namen- und Sachverzeichnis