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Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits

(Sprache: Englisch)
 
 
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This book describes a variety of test generation algorithms for testing crosstalk delay faults in VLSI circuits. It introduces readers to the various crosstalk effects and describes both deterministic and simulation-based methods for testing crosstalk delay...
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Kommentar zu "Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits"
 
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