Analytical Techniques for Thin Films (PDF)
Treatise on Materials Science and Technology, Vol. 27
(Sprache: Englisch)
Treatise on Materials Science and Technology, Volume 27: Analytical Techniques for Thin Films covers a set of analytical techniques developed for thin films and interfaces, all based on scattering and excitation phenomena and theories. The book discusses...
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Produktinformationen zu „Analytical Techniques for Thin Films (PDF)“
Treatise on Materials Science and Technology, Volume 27: Analytical Techniques for Thin Films covers a set of analytical techniques developed for thin films and interfaces, all based on scattering and excitation phenomena and theories. The book discusses photon beam and X-ray techniques; electron beam techniques; and ion beam techniques. Materials scientists, materials engineers, chemical engineers, and physicists will find the book invaluable.
Bibliographische Angaben
- 2017, 506 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: K. N. Tu, R. Rosenberg
- Verlag: Elsevier Science & Techn.
- ISBN-10: 1483218317
- ISBN-13: 9781483218311
- Erscheinungsdatum: 31.01.2017
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 58 MB
- Mit Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Sprache:
Englisch
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