Applied Measurement with jMetrik (ePub)
(Sprache: Englisch)
Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.
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Produktdetails
Produktinformationen zu „Applied Measurement with jMetrik (ePub)“
Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.
Autoren-Porträt von J. Patrick Meyer
J. Patrick Meyer is an associate professor in the Curry School of Education at the University of Virginia
Bibliographische Angaben
- Autor: J. Patrick Meyer
- 2014, 170 Seiten, Englisch
- Verlag: Taylor & Francis
- ISBN-10: 1136294163
- ISBN-13: 9781136294167
- Erscheinungsdatum: 13.06.2014
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eBook Informationen
- Dateiformat: ePub
- Größe: 1.85 MB
- Mit Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Sprache:
Englisch
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