Applied Measurement with jMetrik (PDF)
(Sprache: Englisch)
Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.
sofort als Download lieferbar
eBook (pdf)
65.80 €
- Lastschrift, Kreditkarte, Paypal, Rechnung
- Kostenloser tolino webreader
Produktdetails
Produktinformationen zu „Applied Measurement with jMetrik (PDF)“
Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.
Autoren-Porträt von J. Patrick Meyer
J. Patrick Meyer is an associate professor in the Curry School of Education at the University of Virginia
Bibliographische Angaben
- Autor: J. Patrick Meyer
- 2014, 170 Seiten, Englisch
- Verlag: Taylor & Francis
- ISBN-10: 1136294171
- ISBN-13: 9781136294174
- Erscheinungsdatum: 13.06.2014
Abhängig von Bildschirmgröße und eingestellter Schriftgröße kann die Seitenzahl auf Ihrem Lesegerät variieren.
eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 2.10 MB
- Mit Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Sprache:
Englisch
Kopierschutz
Dieses eBook können Sie uneingeschränkt auf allen Geräten der tolino Familie lesen. Zum Lesen auf sonstigen eReadern und am PC benötigen Sie eine Adobe ID.
Kommentar zu "Applied Measurement with jMetrik"
Schreiben Sie einen Kommentar zu "Applied Measurement with jMetrik".
Kommentar verfassen