Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors (PDF)
(Sprache: Englisch)
Proceedings of the 5th International Workshop on Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors (BIADS 98), held in Parkhotel Schloss Wulkow near Berlin, Germany, August/September 1998
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Produktinformationen zu „Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors (PDF)“
Proceedings of the 5th International Workshop on Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors (BIADS 98), held in Parkhotel Schloss Wulkow near Berlin, Germany, August/September 1998
Bibliographische Angaben
- 1998, 550 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Martin Kittler, Otwin Breitenstein, A. Endrös, Wolfgang Schröter
- Verlag: Trans Tech Publications
- ISBN-10: 3035706824
- ISBN-13: 9783035706826
- Erscheinungsdatum: 18.12.1998
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