Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik (PDF)
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Produktdetails
Produktinformationen zu „Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik (PDF)“
Bibliographische Angaben
- 2001, 156 Seiten, Deutsch
- Verlag: Cuvillier Verlag
- ISBN-10: 3736903782
- ISBN-13: 9783736903784
- Erscheinungsdatum: 14.09.2001
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 3.05 MB
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