Defects and Synchrotron X-Ray Topography in Silicone-Carbide Based Devices (PDF)
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Produktdetails
Produktinformationen zu „Defects and Synchrotron X-Ray Topography in Silicone-Carbide Based Devices (PDF)“
Special topic volume with invited peer-reviewed papers only
Bibliographische Angaben
- 2023, 152 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Juraj Marek, Gregor Pobegen, Ulrike Grossner
- Verlag: Trans Tech Publications
- ISBN-10: 3036413324
- ISBN-13: 9783036413327
- Erscheinungsdatum: 06.06.2023
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
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Sprache:
Englisch
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