Defects in Semiconductors 18 (PDF)
(Sprache: Englisch)
Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS-18), Sendai, Japan, July 1995
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Produktinformationen zu „Defects in Semiconductors 18 (PDF)“
Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS-18), Sendai, Japan, July 1995
Bibliographische Angaben
- 1995, 2268 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Masashi Suezawa, Hiroshi Katayama-Yoshida
- Verlag: Trans Tech Publications
- ISBN-10: 303570502X
- ISBN-13: 9783035705027
- Erscheinungsdatum: 21.11.1995
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eBook Informationen
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