Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors XIV (PDF)
(Sprache: Englisch)
Selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP-14), September 25-29, 2011, Miyazaki, Japan
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Produktinformationen zu „Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors XIV (PDF)“
Selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP-14), September 25-29, 2011, Miyazaki, Japan
Bibliographische Angaben
- 2012, 324 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Hiroshi Yamada-Kaneta, Akira Sakai
- Verlag: Trans Tech Publications
- ISBN-10: 3038138568
- ISBN-13: 9783038138563
- Erscheinungsdatum: 12.07.2012
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
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Sprache:
Englisch
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