Electromigration in Metals (PDF)
Fundamentals to Nano-Interconnects
(Sprache: Englisch)
Learn to assess electromigration reliability and design more resilient chips in this comprehensive and practical resource. Beginning with fundamental physics and building to advanced methodologies, this book enables the reader to develop highly reliable...
sofort als Download lieferbar
eBook (pdf)
82.30 €
- Lastschrift, Kreditkarte, Paypal, Rechnung
- Kostenloser tolino webreader
Produktdetails
Produktinformationen zu „Electromigration in Metals (PDF)“
Learn to assess electromigration reliability and design more resilient chips in this comprehensive and practical resource. Beginning with fundamental physics and building to advanced methodologies, this book enables the reader to develop highly reliable on-chip wiring stacks and power grids. Through a detailed review on the role of microstructure, interfaces and processing on electromigration reliability, as well as characterisation, testing and analysis, the book follows the development of on-chip interconnects from microscale to nanoscale. Practical modeling methodologies for statistical analysis, from simple 1D approximation to complex 3D description, can be used for step-by-step development of reliable on-chip wiring stacks and industrial-grade power/ground grids. This is an ideal resource for materials scientists and reliability and chip design engineers.
Bibliographische Angaben
- Autor: Paul S. Ho
- 2022, Englisch
- Verlag: Cambridge University Press
- ISBN-10: 1009287796
- ISBN-13: 9781009287791
- Erscheinungsdatum: 12.05.2022
Abhängig von Bildschirmgröße und eingestellter Schriftgröße kann die Seitenzahl auf Ihrem Lesegerät variieren.
eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 21 MB
- Mit Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Sprache:
Englisch
Kopierschutz
Dieses eBook können Sie uneingeschränkt auf allen Geräten der tolino Familie lesen. Zum Lesen auf sonstigen eReadern und am PC benötigen Sie eine Adobe ID.
Family Sharing
eBooks und Audiobooks (Hörbuch-Downloads) mit der Familie teilen und gemeinsam genießen. Mehr Infos hier.
Kommentar zu "Electromigration in Metals"
Schreiben Sie einen Kommentar zu "Electromigration in Metals".
Kommentar verfassen