Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology III (PDF)
(Sprache: Englisch)
Proceedings of the 3rd International Conference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology (GADEST '89) held at Garzau, GDR, October 1989
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Produktinformationen zu „Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology III (PDF)“
Proceedings of the 3rd International Conference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology (GADEST '89) held at Garzau, GDR, October 1989
Bibliographische Angaben
- 1989, 620 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: M. Kittler
- Verlag: Trans Tech Publications
- ISBN-10: 3035706441
- ISBN-13: 9783035706444
- Erscheinungsdatum: 01.01.1989
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
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Sprache:
Englisch
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