High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography (PDF)
(Sprache: Englisch)
The rapid growth in the applications of electronic materials has created an increasing demand for reliable techniques for examining and characterizing these materials. This book explores the area of x-ray diffraction and the techniques available for...
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Produktinformationen zu „High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography (PDF)“
The rapid growth in the applications of electronic materials has created an increasing demand for reliable techniques for examining and characterizing these materials. This book explores the area of x-ray diffraction and the techniques available for deployment in research, development, and production. It maps the theoretical and practical background necessary to study single crystal materials using high resolution x-ray diffraction and topography. It combines mathematical formalism with graphical explanations and hands-on advice for interpreting data, thus providing the theoretical and practical background for applying these techniques in scientific and industrial materials characterization.
Autoren-Porträt von D. K. Bowen, Brian K. Tanner
D. Keith Bowen, formerly Professor of Engineering at the University of Warwick, is President of Bede Scientific Inc., Denver, Colorado, USA, as well as Strategic Research Director of Bede Scientific Instruments Ltd. Brian K. Tanner is Professor of Physics and Head of the Department of Physics at the University of Durham, and Science Director of Bede Scientific Instruments Ltd., Durham.
Bibliographische Angaben
- Autoren: D. K. Bowen , Brian K. Tanner
- 1998, 252 Seiten, Englisch
- Verlag: Taylor & Francis
- ISBN-10: 0203979192
- ISBN-13: 9780203979198
- Erscheinungsdatum: 05.02.1998
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 13 MB
- Mit Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Sprache:
Englisch
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