Noncontact Atomic Force Microscopy / NanoScience and Technology (PDF)
(Sprache: Englisch)
Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following...
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Produktinformationen zu „Noncontact Atomic Force Microscopy / NanoScience and Technology (PDF)“
Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.
Bibliographische Angaben
- 2012, 2002, 440 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: S. Morita, Roland Wiesendanger, E. Meyer
- Verlag: Springer Berlin Heidelberg
- ISBN-10: 3642560199
- ISBN-13: 9783642560194
- Erscheinungsdatum: 06.12.2012
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 63 MB
- Ohne Kopierschutz
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Sprache:
Englisch
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