Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen (PDF)
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Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.
Der Inhalt
Halbleiterdioden - Bipolartransistoren - Sperrschicht-Feldeffekttransistoren - Mos-Feldeffekttransisotoren - Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor - Operationsverstärker - Optokoppler
Die Zielgruppen
Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten
Ingenieure und Physiker in der Praxis
Der Autor
Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen.
- Autor: Peter Baumann
- 2012, 2012, 135 Seiten, Deutsch
- Verlag: Springer-Verlag GmbH
- ISBN-10: 383482495X
- ISBN-13: 9783834824950
- Erscheinungsdatum: 28.09.2012
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- Dateiformat: PDF
- Größe: 4.22 MB
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