Random Non-Random Periodic Fau (ePub)
(Sprache: Englisch)
This book provides a comprehensive overview of stacking faults in crystal structures. Subjects covered include: notations used in representations of close-packed structures; types of faults; methods of detection and measurement such as X-ray diffraction,...
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Produktdetails
Produktinformationen zu „Random Non-Random Periodic Fau (ePub)“
This book provides a comprehensive overview of stacking faults in crystal structures. Subjects covered include: notations used in representations of close-packed structures; types of faults; methods of detection and measurement such as X-ray diffraction, electron diffraction and other techniques; theoretical models of non-random faulting during phase transitions; specific examples of - close packed structures including, zinc sulphide, silicon carbide and silver iodide.
Autoren-Porträt von M. T. Sebastian, P. Krishna
Sebastian, M. T.; Krishna, P.
Bibliographische Angaben
- Autoren: M. T. Sebastian , P. Krishna
- 2017, 400 Seiten, Englisch
- Verlag: Taylor & Francis
- ISBN-10: 1351552368
- ISBN-13: 9781351552363
- Erscheinungsdatum: 05.07.2017
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eBook Informationen
- Dateiformat: ePub
- Größe: 6.15 MB
- Mit Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Sprache:
Englisch
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