Scan Statistics / Springer Series in Statistics (PDF)
(Sprache: Englisch)
In many statistical applications, scientists have to analyze the occurrence of observed clusters of events in time or space. Scientists are especially interested in determining whether an observed cluster of events has occurred by chance if it is assumed...
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Produktdetails
Produktinformationen zu „Scan Statistics / Springer Series in Statistics (PDF)“
In many statistical applications, scientists have to analyze the occurrence of observed clusters of events in time or space. Scientists are especially interested in determining whether an observed cluster of events has occurred by chance if it is assumed that the events are distributed independently and uniformly over time or space. Scan statistics have relevant applications in many areas of science and technology including geology, geography, medicine, minefield detection, molecular biology, photography, quality control and reliability theory and radio-optics.
Bibliographische Angaben
- Autoren: Joseph Glaz , Joseph Naus , Sylvan Wallenstein
- 2013, 2001, 372 Seiten, Englisch
- Verlag: Springer, New York
- ISBN-10: 1475734603
- ISBN-13: 9781475734607
- Erscheinungsdatum: 09.03.2013
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 29 MB
- Mit Kopierschutz
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Sprache:
Englisch
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