Thermal Testing of Integrated Circuits (PDF)
(Sprache: Englisch)
Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.
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Produktdetails
Produktinformationen zu „Thermal Testing of Integrated Circuits (PDF)“
Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.
Bibliographische Angaben
- Autoren: J. Altet , Antonio Rubio
- 2013, 2002, 204 Seiten, Englisch
- Verlag: Springer, New York
- ISBN-10: 1475736355
- ISBN-13: 9781475736359
- Erscheinungsdatum: 09.03.2013
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 18 MB
- Mit Kopierschutz
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Sprache:
Englisch
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