Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l'Optique des Rayons X et la Microanalyse (PDF)
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Produktdetails
Produktinformationen zu „Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l'Optique des Rayons X et la Microanalyse (PDF)“
Bibliographische Angaben
- Autor: Gottfried Möllenstedt
- 2013, 1969, 612 Seiten, Deutsch
- Verlag: Springer-Verlag GmbH
- ISBN-10: 366224778X
- ISBN-13: 9783662247785
- Erscheinungsdatum: 02.07.2013
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 68 MB
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