Test digitaler Schaltkreise
Embedded systems are assuming key control functions in everyday life. Systemic failure in the energy supply or the transport sector could lead to fatal consequences. Users place great reliance on the error-free function of such systems. Guaranteeing the...
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Produktinformationen zu „Test digitaler Schaltkreise “
Klappentext zu „Test digitaler Schaltkreise “
Embedded systems are assuming key control functions in everyday life. Systemic failure in the energy supply or the transport sector could lead to fatal consequences. Users place great reliance on the error-free function of such systems. Guaranteeing the functional capability of digital circuits is the goal of testing - and this aim must be achieved at low cost, since every chip has to be tested separately after production.
Großformatiges Paperback. Klappenbroschur
Autoren-Porträt von Stephan Eggersglüß, Görschwin Fey, Ilia Polian
Stephan Eggersglüß, Görschwin Fey, Ilia Polian
Bibliographische Angaben
- Autoren: Stephan Eggersglüß , Görschwin Fey , Ilia Polian
- 2014, 238 Seiten, 77 Schwarz-Weiß-Abbildungen, 77 Abbildungen, Maße: 17 x 24 cm, Kartoniert (TB), Deutsch
- Verlag: OLDENBOURG
- ISBN-10: 3486720139
- ISBN-13: 9783486720136
- Erscheinungsdatum: 29.01.2014
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