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Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies

(Sprache: Englisch)
 
 
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This book presents a new methodology with reduced time impact to address the problem of analog integrated circuit (IC) yield estimation by means of Monte Carlo (MC) analysis, inside an optimization loop of a population-based algorithm. The low...
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Kommentar zu "Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies"
 
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