Failure Analysis / De Gruyter STEM (ePub)
High Technology Devices
(Sprache: Englisch)
The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies.
sofort als Download lieferbar
eBook (ePub)
79.95 €
- Lastschrift, Kreditkarte, Paypal, Rechnung
- Kostenloser tolino webreader
Produktdetails
Produktinformationen zu „Failure Analysis / De Gruyter STEM (ePub)“
The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies.
Autoren-Porträt von Daniel J. D. Sullivan, Eric J. Carleton
Dr. Daniel J. D. Sullivan attended Cal & U. C. San Diego. Managed: FA, Reliability and Materials labs. Currently in sales and marketing at EAG labs. He has also written a non-technical book, ¿Don¿t Date Crazy¿ by DJDS, and published a board game called Infection. Dr. Eric J. Carleton is a technology developer and consultant who has incubated multiple technology startups, founded Arrhenius, a failure analysis firm, and serves clients in a wide array of industries on scientific analysis and litigation matters.
Bibliographische Angaben
- Autoren: Daniel J. D. Sullivan , Eric J. Carleton
- 2022, 128 Seiten, Englisch
- Verlag: Walter de Gruyter
- ISBN-10: 1501516477
- ISBN-13: 9781501516474
- Erscheinungsdatum: 24.10.2022
Abhängig von Bildschirmgröße und eingestellter Schriftgröße kann die Seitenzahl auf Ihrem Lesegerät variieren.
eBook Informationen
- Dateiformat: ePub
- Größe: 8.76 MB
- Ohne Kopierschutz
Sprache:
Englisch
Kommentar zu "Failure Analysis / De Gruyter STEM"
Schreiben Sie einen Kommentar zu "Failure Analysis / De Gruyter STEM".
Kommentar verfassen