Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability (PDF)
A Physics of Failure Approach
(Sprache: Englisch)
This book raises the level of understanding of thermal design criteria. It provides the design team with sufficient knowledge to help them evaluate device architecture trade-offs and the effects of operating temperatures.
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Produktdetails
Produktinformationen zu „Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability (PDF)“
This book raises the level of understanding of thermal design criteria. It provides the design team with sufficient knowledge to help them evaluate device architecture trade-offs and the effects of operating temperatures.
Autoren-Porträt von Pradeep Lall, Michael G. Pecht, Edward B. Hakim
Pradeep Lall, Michael G. Pecht, Edward B. Hakim
Bibliographische Angaben
- Autoren: Pradeep Lall , Michael G. Pecht , Edward B. Hakim
- 2020, 336 Seiten, Englisch
- Verlag: Taylor & Francis
- ISBN-10: 0429611110
- ISBN-13: 9780429611117
- Erscheinungsdatum: 09.07.2020
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 99 MB
- Ohne Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Sprache:
Englisch
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