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Kelvin Probe Force Microscopy / Springer Series in Surface Sciences Bd.65 (PDF)

From Single Charge Detection to Device Characterization (Sprache: Englisch)
 
 
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This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials,...
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Kommentar zu "Kelvin Probe Force Microscopy / Springer Series in Surface Sciences Bd.65"
 
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