Evelyne Kern: Unsere Angebote zum Thema

Optical Characterization of Semiconductors

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Erschienen am 01.01.1992

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Systems with Fast Ionic Transport - III

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Erschienen am 01.01.1991

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Defect and Diffusion Forum Vol. 62-63

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Erschienen am 01.01.1989

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Materials Science for High Technologies

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Ultra Clean Processing of Silicon Surfaces IV

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Erschienen am 21.11.1998

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Journal of Nano Research Vol. 64

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Erschienen am 30.11.2020

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Crystalline Materials: Growth and Characterization

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Erschienen am 01.01.1991

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Martensitic Transformations

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Erschienen am 01.01.1990

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Defect and Diffusion Forum Vol. 61

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Synthesis and Properties of Boron Nitride

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Growth and Characterization of Acousto-Optic Materials

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Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors

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Erschienen am 18.12.1998

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Defect and Diffusion Forum Vols. 64-65

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Effects of Modes of Formation on the Structure of Glass

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Erschienen am 01.01.1987

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Shallow Impurities in Semiconductors IV

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Erschienen am 01.01.1991

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Journal of Nano Research Vol. 65

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Erschienen am 14.12.2020

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Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology VII

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Erschienen am 25.07.1997

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Structure Development in Condensed Matter

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Erschienen am 25.08.1997

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International Ceramic Conference 1991

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Semiconductor Materials and Technology (ICSMT)

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Advanced Ceramics

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Erschienen am 01.01.1991

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Journal of Nano Research Vol. 57

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Erschienen am 19.04.2019

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Polycrystalline Semiconductors IV

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Erschienen am 23.05.1996

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Mechanical Properties Research 90

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Erschienen am 01.01.1990

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Dynamical Processes in Disordered Systems

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Defect and Diffusion Forum Vol. 49

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Erschienen am 01.01.1987

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Kinetics and Applications of Atomic Diffusion in Solids

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Erschienen am 27.05.1997

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Defect and Diffusion Forum Vols. 51-52

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Fracture and Strength '90

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Electronic Structure and Lattice Defects in Alloys

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